NARISHIGE成茂超精密提升梭 SY-LOS

NARISHIGE成茂超精密提升梭 SY-LOS升降梭是一种超快的专用升降解决方案，用于为离位电子显微镜制备样品。它具有一个微夹钳、一个四轴载物台和一个位于表面的小型 CCD 相机，可快速接近。该系统

由安装在超紧凑平台上的四轴载物台组成。微夹钳安装在载物台上方，以方便升降。操纵载物台将预切样品定位在微夹钳下方。之后，微夹钳夹住样品并轻轻地但足够牢固地握住它，只需将载物台放下并移开，即可将样品从块体材料中分离出来。分离后，将样品与 TEM 网格上的 SEM 兼容胶水接触，并用离子束固化。

要观看此过程的实际视频，请点击 Kleindiek 的网站链接：http://www.nanotechnik.com/lift-out-shuttle.html

该系统包括控制电子设备、游戏手柄、微夹钳和操作手册。

• 负载锁兼容平台上的子台

• 最大试样尺寸：30mm

• 行程：X 和 Y = 10mm
  行程：Z = 3mm
  行程：R = 360°（无限制）

• 速度：最高1mm/s

• 分辨率：<0.5nm

• 笛卡尔运动

• 无反弹或逆转

• 适用于大多数 SEM 和 FIB 工具的简单负载锁解决方案

• 几乎不受振动影响

微夹钳

• 用于运输和组装微型物体的高分辨率夹持器

• 夹持面积：（5 至 10 µm）

• 分辨率：20纳米

• 夹持力：5 至 5000 µN（可变）

• 最大跨度范围：20 至 40 µm

扫描相机

• 位于样品表面的小型摄像机

• 允许快速接近

• 包括显示器和 LED 照明